Тэги: Электронные лампы и полупроводниковые приборы

Наименование Производитель Год Номер в реестре
Анализаторы цепей векторные R&S ZNC3, ZNB4, ZNB8 Германия  2012 49105-12 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М Россия  2012 34031-12 
Установки для измерения тангенса угла диэлектрических потерь трансформаторного масла автоматизированные Тангенс-3М Украина  2011 48725-11 
Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-419 Беларусь  2011 48533-11 
Комплексы измерительные параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-219 Беларусь  2011 48532-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-868 Беларусь  2011 48530-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-780 Беларусь  2011 48451-11 
Анализаторы электрических цепей векторные ZVA50, ZVA67, ZVA80 Германия  2011 48355-11 
Анализаторы цепей векторные E5061B Малайзия  2011 47220-11 
Анализаторы параметров цепей векторные N9923A Малайзия  2011 47219-11 
Анализаторы цепей векторные Р4М-18, опции Р4М-18-20А, Р4М-18-ДПА, Р4М-18-ДМА и Р4М-18-СПА Россия  2011 47185-11 
Анализаторы электрических цепей векторные Agilent E5071C с опциями 2К5, 4К5, 260, 460, 465, 2D5, 4D5 Малайзия  2010 45997-10 
Установка для измерения параметров полупроводниковых материалов на эффекте Холла HMS-3000 Корея  2010 45517-10 
Измерители тангенса угла потерь и удельного сопротивления диэлектрика DTL C Австрия  2010 45244-10 
Измерители электрической прочности масла OTS Великобритания  2010 44214-10 
Анализатор цепей скалярный 8757D США  2010 43799-10 
Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-319 Беларусь  2010 43669-10 
Измерители параметров полупроводниковых приборов 4155С, 4156С Япония  2010 39905-10 
Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ ДМТ-220 Беларусь  2010 35430-07 
Измерители параметров полупроводниковых приборов 4155C, 4156C Япония  2010 39905-08 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М Россия  2010 34031-08 
Анализаторы электрических цепей векторные / анализаторы спектра ZVL13 Германия  2009 43232-09 
Измерители статических параметров микросхем КВК.СИЦ.Э-32 Россия  2009 40964-09 
Измерители параметров полупроводниковых приборов B1500A с модулями B1510A, B1511A, B1517A, E5288A Япония  2009 39903-08 
Анализаторы электрических цепей векторные Advantest R3765CG Япония  2009 36043-07 
Анализатор электрических цепей векторный Anritsu MS4624B Япония  2008 38518-08 
Анализаторы электрических цепей векторные PNA-L N5230A США  2008 37698-08 
Анализаторы цепей PNA E8362B, E8363B США  2008 37595-08 
Анализаторы цепей векторные E8362B США  2008 37280-08 
Анализаторы электрических цепей векторные Agilent Е5071С Малайзия  2008 37231-08 
Анализаторы цепей векторные N5242A Малайзия  2008 37230-08 
Анализаторы цепей векторные N5230А/С Малайзия  2008 37229-08 
Анализаторы цепей векторные E8361A/C, E8362B/C, E8363B/C, E8364B/C Малайзия  2008 37176-08 
Анализаторы параметров цепей векторные MS2024A, MS2026A, MS2034A, MS2036A Япония  2008 37094-08 
Анализатор цепей векторный E8363B США  2008 36801-08 
Анализатор цепей векторный N5230A США  2008 36800-08 
Измеритель S-параметров Agilent 85046A США  2008 33133-06 
Тестеры параметров цифровых интегральных микросхем ETC-780 Россия  2008 26595-04 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М Россия  2008 34031-07 
Приемники измерительные панорамные Сота Россия  2007 36327-07 
Измеритель параметров многополюсников Agilent Е5062А Малайзия  2007 36314-07 
Измерители иммитанса цифровые AM-3001 Корея  2007 36304-07 
Анализатор электрических цепей векторный Anritsu MS4630B Япония  2007 36044-07 
Анализатор цепей PNA E8363B США  2007 36042-07 
Система для измерений электрических параметров полупроводниковых приборов NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110 США  2007 35884-07 
Измерители удельного сопротивления кремния Рометр Россия  2007 35567-07 
Измерители удельной электрической проводимости вихретоковые ВЭ-47НЦ, ВЭ-57НЦ Россия  2007 35438-07 
Тестеры цифровых интегральных схем на 128 выводов  Россия  2007 35431-07 
Тестеры микросхем большой степени интеграции FORMULA-200 Россия  2007 35114-07 
Тестеры полупроводниковых приборов Formula-TT Россия  2007 34171-07 
1 2 3 4

Тэги