Электронные лампы и полупроводниковые приборы Классификатор средств измерений по тэгам

Оборудование

Для измерения тангенса угла потерь, удельного электрического сопротивления и диэлектрической проницаемости электроизоляционных жидкостей. Результаты измерений позволяют оценить качество очистки, степень старения и диэлектрические потери трансформатор...
44214-10
OTS Измерители электрической прочности масла
Фирма "Megger Ltd.", Великобритания
Для измерения напряжение пробоя диэлектрических жидкостей на переменном токе. Область применения: проверка электрической прочности масла, заполняющего трансформаторы и другие электротехнические изделия в лабораторных и полевых условиях.
43799-10
8757D Анализатор цепей скалярный
Фирма "Agilent Technologies", США
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для измерений составляющих спектра, S-параметров коаксиальных многополюсников (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и реактивная составляющие полного входного сопротивления, групповое врем...
Для измерений составляющих спектра, S-параметров коаксиальных многополюсников (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и реактивная составляющие полного входного сопротивления, групповое врем...
Для контроля и измерения статических параметров интегральных микросхем в условиях серийного и массового производства на межоперационном и выходном контроле приборов в корпусах и на пластинах при ручной и автоматической загрузке и выгрузке.
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для измерений комплексных S-параметров двух-, четырех-и шестиполюсных устройств (смесителей, преобразователей, умножителей) в коаксиальных трактах (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и р...
37698-08
PNA-L N5230A Анализаторы электрических цепей векторные
Фирма "Agilent Technologies, Inc.", США, и фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерений S-параметров коаксиальных многополюсников (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и реактивная составляющие полного входного сопротивления, групповое время запаздывания) и прим...