ВНИИОФИ Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ
Оборудование
Для измерения параметров пьезоэлектрических преобразователей (ПЭП), формирования паспорта ПЭП и работы с базой данных паспортов. Позволяет измерять и рассчитывать следующие параметры: для прямых совмещенных ПЭП (контактных, щелевых), спектр эхо-сигна...
45378-10
ISONIC 2009, ISONIC 2010 Дефектоскопы ультразвуковые на фазированной решетке
Фирма "Sonotron NDT", Израиль
Для контроля качества продукции с целью обнаружения дефектов, нарушений сплошности и измерения глубины их залегания в материалах, полуфабрикатах, готовых изделиях и сварных соединениях. Для контроля и диагностики изделий основного производства и техн...
45355-10
NQMSfiber Системы измерений и контроля параметров волоконно-оптических линий связи
Фирма "EXFO Electro-Optical Engineering Inc.", Канада
Для автоматического обнаружения и измерений длины (расстояния) до мест неоднородности в оптическом кабеле, возникших в результате неисправности в волоконно-оптических линиях связи (ВОЛС). Область применения: проведение контрольно-измерительных работ...
Для объективного измерения сферической и цилиндрической рефракции, определения положений главных сечений при астигматизме, необходимых для коррегирования недостатков оптической системы глаза, измерения радиуса кривизны, направления основного меридиан...
Для объективного измерения сферической и цилиндрической рефракции, определения положений главных сечений при астигматизме, необходимых для коррегирования недостатков оптической системы глаза, расстояния между зрачками PD и размера зрачка глаза при по...
Для измерений энергетической освещенности и спектральной плотности энергетической освещенности источников УФ излучения, используемых в технологических процессах в микронаноэлектронике, космической технике, фотохимии, медицине и при диагностике плазмы...
Для измерений в спектральном диапазоне 0,4...1,1 мкм с разбиением на поддиапазоны 0,4...0,52 мкм, 0,52...0,63 мкм, 0,63...0,76 мкм, 0,76...0,9 мкм, 0,9...1,1 мкм яркости, освещенности, энергетической яркости, энергетической освещенности, спектральных...
Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой эл...
Для контроля морфологических параметров поверхности полупроводниковых структур. Область применения - в производственной лаборатории ФГУП "ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова".
45264-10
Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва
Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше...
Для измерения оптической плотности жидких проб в 96-луночном планшете при проведении иммуноферментных исследований. Область применения - клинико-диагностические лаборатории медицинских учреждений и лаборатории научно-исследовательских институтов.
Для контроля оптических параметров корригирующих очков и правильности их изготовления. С их помощью измеряют заднюю вершинную рефракцию и призматическое действие очковых линз всех типов, маркируют оптический центр линзы, положения главного сечения с...
Для обнаружения дефектов типа нарушения сплошности материалов, полуфабрикатов, готовых изделий, для измерения координат их залегания при контактном способе ввода ультразвуковых колебаний. Область применения - неразрушающий контроль объектов железнодо...
45153-10
Spectrum 65, Spectrum 100N, Spectrum 100R, Spectrum 100S, Spectrum 100T, Spectrum 400 Фурье-спектрометры инфракрасные
Фирма "PerkinElmer Inc.", США
Для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах, продуктах питания, почвах, и т.д. Область применения - экологический контроль, пищевая промышленность, производство полупроводниковых...