ВНИИМС Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ

Оборудование

Для измерения напряжения и силы постоянного тока, построения многоуровневых систем телемеханики и связи (ТМиС), а также создания модульных автоматизированных систем мониторинга и управления технологическими процессами различных объектов автоматизации...
48316-11
М6-5, М6-6 Мегаомметры
ОАО Александровский НИИ телевизионной техники "РЕКОРД", г.Александров
Для измерения сопротивления изоляции и коэффициента абсорбции изоляции электрооборудования, не находящегося под напряжением.
48315-11
КИТП-01 Измерители силы постоянного тока
ООО "Электронные технологии" (ЭЛТЕХ), г.Тверь
Для измерения силы постоянного тока в газораспределительных пунктах и передачи измеренных значений по встроенному GSM-900/1800 модему на компьютер.
48314-11
БИП-01 Измерители электрических потенциалов
ООО "Электронные технологии" (ЭЛТЕХ), г.Тверь
Для измерения напряжения постоянного тока.
Для измерения активной и реактивной электроэнергии за установленные интервалы времени, автоматизированного сбора, обработки, хранения и отображения полученной информации. Выходные данные системы могут быть использованы для коммерческих расчетов.
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, потребленной за установленные интервалы времени, сбора, обработки, хранения и передачи полученной информации.
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, потребленной за установленные интервалы времени, сбора, обработки, хранения и передачи полученной информации.
48291-11
VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий
Фирма "Veeco Instruments", Великобритания
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
48290-11
INCA Energy 250 Спектрометр энергодисперсионный
Фирма "Oxford Instruments", Великобритания
Для качественного и количественного рентгеновского микроанализа химических элементов в твердых, порошкообразных, смешанных и тонкопленочных образцах.
48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", Германия
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
48288-11
Shimadzu XRD-7000 Дифрактометр рентгеновский
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва, ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
48279-11
Меры отклонений от плоскостности
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва
Для поверки и калибровки средств измерений интерференционными методами оптических поверхностей.
Для воспроизведения перемещений при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, оптических интерферометров, контактных систем измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне.