48284-11: Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 48284-11 |
Наименование | Микроскоп сканирующий зондовый |
Модель | НаноСкан-3Di |
Технические условия | ГОСТ 8.296-78 |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2011 |
Методика поверки | МП 48284-11 |
Межповерочный интервал | 2 года |
Страна-производитель | Россия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ ВНИИМС |
Адрес | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
Руководитель | Кононогов Сергей Алексеевич |
Телефон | (8*095) 437-55-77 |
Факс | 437-56-66 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | 44501 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
Дата протокола | Приказ 6335 от 25.11.11 п.16 |
Производитель / Заявитель
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Россия
142190, Московская обл., ул.Центральная, д.7а, тел. 8(499)2722314, E-mail: nanoscan@newmail.ru
Скачать
48284-11: Описание типа СИ
401.6 КБ Скачать