Линейные Классификатор средств измерений
Оборудование
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 100 мкм...1 нм и поверки (калибровки) измерительных электронных микроскопов, предназначенных для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин). Область...
Для измерения размеров частиц в порошках. суспензиях, эмульсиях при гранулометрическом анализе. Область применения: металлургическая, горнодобывающая, химическая, фармацевтическая, парфюмерная промышленности, цементное производство, кондитерские пред...
41699-09
PMS, исп. PMS200, PMS300, PMS400, PMS500, PMS600, PMS700, PMS900, PMS1200, PMS1500, PMS1700 Машины измерительные
Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия
Для бесконтактных и контактных измерений геометрических параметров различных деталей и объектов. Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электриче...
41696-09
WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400 Микроскопы измерительные
Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия
Для измерения геометрических параметров: линейных и угловых размеров различных деталей и объектов. Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электри...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) растровых электронных, атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длин...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) растровых электронных, атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длин...
41678-09
TGZ1, TGZ2, TGZ3 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, атомно-силовых микроскопов, профиломет...
41678-09
TGZ1, TGZ2, TGZ3 Меры периода и высоты линейные
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва, Зеленоград
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, атомно-силовых микроскопов, профиломет...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих атомно-силовых микроскопов...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих атомно-силовых микроскопов...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...