Линейные Классификатор средств измерений

Оборудование

Для измерений координат точек земной поверхности с борта самолета или вертолета. Применяется для сбора топографических данных в геодезии, топографии, землеустройстве, кадастре и других видах аэрогеодезических работ.
Для измерений координат пунктов. Может применяться при создании и обновлении локальных геодезических сетей и топографической съемке, а также в составе группы непрерывно работающих опорных станций, стационарно установленных на пунктах, образующих дифф...
Для измерений координат пунктов. Может применяться при создании и обновлении локальных геодезических сетей и топографической съемке, а также в составе группы непрерывно работающих опорных станций, стационарно установленных на пунктах, образующих дифф...
41862-09
ST, P и PMP Проекторы измерительные
Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия
Для измерения линейных и угловых размеров объектов различных размеров и сложной конфигурации и вывода результатов измерений на дисплей в цифровом виде. Область применения - в металлообработке, в обработке пластмасс, в автомобильной промышленности, в...
Для измерения координат (приращения координат) точек земной поверхности. Область применения - развитие планово-высотного обоснования топографических съемок, землеустроительные работы, прикладная геодезия и инженерно-геодезические изыскания.
41786-09
ВД-87НСт/1 Дефектоскопы вихретоковые
АО "Интроскоп", Молдова, г.Кишинев
Для: измерения глубины протяженных дефектов; обнаружения поверхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных и немагнитных сталей и сплавов с удельной электрической проводимостью в диапазоне 0,3...54 МСм/м, с минимальной толщиной материала 0,5 мм, ми...
41782-09
CoilTrak, OnTrak, AziTrak Приборы скважинные
Фирма "BAKER HUGHES", США, Германия
Для измерений азимута и зенитного угла ствола скважин, удельного сопротивления горных пород около скважинного пространства и давления бурового раствора. Область применения - бурение наклонно-направленных и горизонтальных скважин, в том числе нефтегаз...
41781-09
MPR Приборы скважинные
Фирма "BAKER HUGHES", США, Германия
Для измерений удельного сопротивления горных пород около скважинного пространства. Область применения - при бурение наклонно-направленных и горизонтальных скважин, в том числе нефтегазовых, а также при геофизических исследованиях.
41780-09
NaviTrak I, NaviTrak II, GyroTrak Приборы скважинные
Фирма "BAKER HUGHES", США, Германия
Для измерений азимута и зенитного угла ствола скважин. Область применения - бурение наклонно-направленных и горизонтальных скважин, в том числе нефтегазовых, а также при геофизических исследованиях.
Для абсолютных и относительных измерений линейных размеров, контроля отклонений от заданной геометрической формы, а также взаимного расположения поверхностей в лабораторных и цеховых условиях в различных отраслях промышленности.
41773-09
LS5 Датчики лазерные перемещения
ООО "НПП "ПРИЗМА", г.Екатеринбург
Для измерения расстояний, на которые перемещаются объекты с рассеивающей поверхностью, а так же для использования в различных измерительных системах бесконтактных измерений линейных размеров, толщины, профиля, непрямолинейности поверхностей, внутренн...
41773-09
LS5 Датчики лазерные перемещения
ООО "НПП "ПРИЗМА", г.Екатеринбург
Для измерения расстояний, на которые перемещаются объекты с рассеивающей поверхностью, а так же для использования в различных измерительных системах бесконтактных измерений линейных размеров, толщины, профиля, непрямолинейности поверхностей, внутренн...
41766-09
0980 Толщиномеры портативные
Фирма "Helios-Preisser Vertriebszentrum", Германия
Для измерений толщины немагнитных покрытий (лаки, краски, пластиковые каучуки, керамика и керамические слои (за исключением никеля), нанесенных на ферромагнитное основание (например, углеродистые стали типа Ст3, Ст10, Ст20, Ст30, Ст45; чугун), а такж...
41749-09
NanoSEM-3D Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...