Линейные Классификатор средств измерений
Оборудование
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва, ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Для поверки и калибровки средств измерений интерференционными методами оптических поверхностей.
Для воспроизведения перемещений при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, оптических интерферометров, контактных систем измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне.
Для воспроизведения перемещений в латеральной плоскости при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, вертикальных сканирующих интерферометров.
Для измерения толщины стенок труб (включая изгибы), котлов, баллонов, сосудов, работающих под давлением, обшивок и других изделий из черных и цветных металлов, а также изделий из стекла, с гладкими и корродированными поверхностями.
48240-11
КОРС 2.0 Комплексы программно-аппаратные для автоматизированной обработки и архивирования радиографических снимков
ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр", г.Москва
Для измерения оптических плотностей согласно ГОСТ 7512-82, расшифровки радиографических снимков при контроле трубопроводов, узлов и деталей промышленного оборудования.
Для настройки, калибровки, поверки установок КТГС и контроля прокруточных стендов ПС при выпуске из производства и в эксплуатации.
Для измерения профиля поверхности в микро- и нанодиапазоне.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом.