Электронные лампы и полупроводниковые приборы Классификатор средств измерений по тэгам
Оборудование
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей и отображения на экране внешнего персонального компьютера (ПК) вольтамперных характеристик (ВАХ) исследуемого объекта в...
30734-05
Agilent 93000 Анализаторы логические
Фирма "Agilent Technologies Deutschland GmbH SOC BU Order FulFillment", Германия
Для измерений параметров сигналов при функциональном и параметрическом контроле микросхем с числом выводов до 512 с рабочей частотой последовательности функционального контроля до 250 МГц и применяются для выходного контроля параметров и правильности...
30144-05
Крона-520 Каналы измерительных аналоговых систем контроля и диагностики электронных устройств
ООО НПК "КРОНА", г.Пенза
Для измерений электрических величин: постоянного напряжения, среднеквадратического значения переменного напряжения произвольной формы, силы постоянного тока, среднеквадратического значения силы переменного тока произвольной формы в различных сферах п...
29512-05
Agilent 4156С (анализатор параметров) Agilent 41501A (блок) Agilent Е5250А (коммутатор) Анализатор параметров полупроводниковых структур (с дополнительным блоком генератора импульсов) с коммутатором
Фирма "Agilent Technologies", США
Спецраздел. Для измерений и анализа характеристик полупроводниковых структур в сфере обороны и безопасности для определения параметров тестовых структур на пластине в лабораторных условиях в составе изделия 1Х1 НИИСИ РАН.
29244-05
ИССИ-1 Измеритель сопротивления сток-исток полевых транзисторов в открытом состоянии
ФГУП "НИИЭТ", г.Воронеж
Спецраздел.
29074-05
Гамма Установки для измерения электрических параметров ИС и радиокомпонентов
АОЗТ "Ани - Тест", Армения, г.Ереван
Для задания значений - напряжения постоянного тока на входных контактах и контактах питания и измерения напряжения постоянного тока на выходных контактах испытуемых ИС и радиокомпонентов в соответствии с управляющей программой, для использования при...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля TTL и КМОП микросхем с числом выводов до...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля TTL и КМОП микросхем с числом выводов до...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля TTL и КМОП микросхем с числом выводов до...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля TTL и КМОП микросхем с числом выводов до...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяются для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля TTL и КМОП микросхем с числом выводов до...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Спецраздел. Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется в сфере обороны и безопасности для функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 64 с...
Для измерений статических и динамических параметров цифровых микросхем и полупроводниковых кристаллов с числом двунаправленных сигнальных выводов до 200, числом источников питания положительной полярности для тестируемых микросхем - до четырех и част...