48984-12: Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.

Основные данные
Госреестр №	48984-12
Наименование	Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Технические условия	тех.документация МГУ
Класс СИ	37
Год регистрации	2012
Методика поверки	МП 51.Д4-11
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИОФИ
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Иванов Вячеслав Семенович
Телефон	(8*095) 437-56-33
Факс	437-31-47
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	45400
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	Приказ 78 от 08.02.12 п.18

Скачать