48982-12: Дифрактометры рентгеновские XRD 6100
Для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов 2? и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических образцов . Объектамиисследования являются порошковые и монолитные образцы минералов, металлов и сплавов, керамики, огнеупоров и других материалов, имеющих кристаллическую структуру.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 48982-12 |
Наименование | Дифрактометры рентгеновские |
Модель | XRD 6100 |
Технические условия | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 31.01 |
Год регистрации | 2012 |
Методика поверки | МП 58.Д4-11 |
Межповерочный интервал | 1 год |
Страна-производитель | Япония |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
Адрес | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
Руководитель | Иванов Вячеслав Семенович |
Телефон | (8*095) 437-56-33 |
Факс | 437-31-47 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 08.02.2017 |
Номер сертификата | 45396 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | С |
Дата протокола | Приказ 78 от 08.02.12 п.14 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Япония
1, Nishinokyo-Kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto, 604-8511, Japan, тел. +81 (75) 823-1066, факс +81 (75) 823-4614 [3, Kanda-Nishikicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101, Japan, тел.+81 (3) 3219-5641, факс +81 (3) 3219-5710]
Скачать
48982-12: Описание типа СИ
154.4 КБ Скачать