44975-10: Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f

Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного элементного анализа в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии.

Основные данные
Госреестр № 44975-10
Наименование Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый
Модель IMS-7f
Технические условия тех.документация фирмы
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2010
Методика поверки МП ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Межповерочный интервал 1 год
Страна-производитель  Франция 
Центр сертификации СИ
Наименование ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель Тодуа Павел Андреевич
Телефон (8*095) 935-97-77
Факс 132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40536
Тип сертификата (На серию или на партию) Е
Дата протокола 03д от 29.07.10 п.352
Производитель / Заявитель

Фирма "Cameca", Франция

 Франция 

103 Bd. Saint-Denis / BP 6, 92403 COURBEVOIE Cedex - France. Тел. (33-1) 43 34 62 00. Факс (33-1) 43 34 63 50, E-mail: sales@cameca.fr

Скачать

44975-10: Описание типа СИ
172.9 КБ Скачать