44570-10: Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 44570-10 |
Наименование | Микроскоп инвертированный оптический |
Модель | OLYMPUS GX71F |
Технические условия | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2010 |
Методика поверки | ТГУ44.3100 МП |
Межповерочный интервал | 2 года |
Страна-производитель | Япония |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ СНИИМ |
Адрес | 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4 |
Руководитель | Черепанов Виктор Яковлевич |
Телефон | (8*383*2) 10-08-14 |
Факс | 10-13-60 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | 40059 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
Дата протокола | 01д3 от 25.03.10 п.172 |
Производитель / Заявитель
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Япония
Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan
Скачать
44570-10: Описание типа СИ
143.3 КБ Скачать