43467-09: Эллипсометр спектральный APECS 3000
Для автоматизированного контроля толщин технологических слоев в процессе производства, а также оптических параметров слоев, зависящих от толщины, таких, как коэффициенты отражения, поглощения, преломления. Мощные возможности обработки и вычисления измеренных данных позволяют использовать эллипсометр как в производстве на межоперационном контроле, так и для научно-исследовательских работ. Может применяться в полупроводниковом производстве, производстве головок магнитных дисков, интегральной оптики для проведения измерений параметров тонких пленок.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 43467-09 |
Наименование | Эллипсометр спектральный |
Модель | APECS 3000 |
Технические условия | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 37 |
Год регистрации | 2009 |
Методика поверки | Приложение к Руководству по эксплуатации ВНИИОФИ |
Межповерочный интервал | 1 год |
Страна-производитель | Германия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
Адрес | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
Руководитель | Иванов Вячеслав Семенович |
Телефон | (8*095) 437-56-33 |
Факс | 437-31-47 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | 38816 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
Дата протокола | 13д2 от 24.12.09 п.45 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Германия
Ernst-Leitz-Strasse 17-37, B-35578 Wetzlar, Germany Тел. +49-6441-29-2529; Факс +49-6441-29-2339
Скачать
43467-09: Описание типа СИ
173.9 КБ Скачать