40597-09: Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 40597-09 |
Наименование | Микроскопы сканирующие зондовые |
Модель | SOLVER NEXT |
Технические условия | ТУ 4254-004-40349675-2008 |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2009 |
Методика поверки | ГОСТ Р 8.630-07 |
Межповерочный интервал | 1 год |
Страна-производитель | Россия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
Адрес | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
Руководитель | Тодуа Павел Андреевич |
Телефон | (8*095) 935-97-77 |
Факс | 132-60-13 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 01.06.2014 |
Номер сертификата | 35432 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | С |
Дата протокола | 05 от 28.05.09 п.59 |
Производитель / Заявитель
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Россия
124482, Зеленоград, кор.100, тел. +7(499) 735-03-05 Факс +7(499) 735-64-10. (124460, Зеленоград, кор.167), E-mail: spm@ntmdt.ru
Скачать
40597-09: Описание типа СИ
351.7 КБ Скачать