35884-07: Система для измерений электрических параметров полупроводниковых приборов NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110
Для прецизионных измерений постоянного и переменного электрического напряжения и силы тока, электрического сопротивления и частоты, а также для питания полупроводниковых приборов в режимах источника постоянного тока или постоянного напряжения, для применения в автоматизированных контрольно-измерительных и испытательных комплексах, установках для научных исследований.
Основные данные | |
---|---|
Госреестр № | 35884-07 |
Наименование | Система для измерений электрических параметров полупроводниковых приборов |
Модель | NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110 |
Технические условия | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 35.06 |
Год регистрации | 2007 |
Методика поверки | МП-028/447-2007 |
Межповерочный интервал | 1 год |
Страна-производитель | США |
Центр сертификации СИ | |
Наименование | ГЦИ СИ Ростест-Москва |
Адрес | 117418, г.Москва, Нахимовский пр-т, 31 |
Руководитель | Бас Виталий Николаевич |
Телефон | (8*095) 332-67-77 |
Факс | 124-99-96 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | 29197 |
Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
Дата протокола | 11 от 27.09.07 п.37 |
Производитель / Заявитель
Компания "National Instruments", США
США
11500 North Могас Ехрау, Austin, Техаs, 78759-3504, USA, H-4031, Debrecen, Hatar ut I/A, Hungary
Скачать
35884-07: Описание типа СИ
265 КБ Скачать