21685-06: Дифрактометры рентгеновские D8

Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и количественный фазовый состав и структуру твердых тел, параметры элементарной ячейки, микронапряжения в кристаллах, посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленностях, а также анализа объектов окружающей среды.

Основные данные
Госреестр № 21685-06
Наименование Дифрактометры рентгеновские
Модель D8
Модификации D8 ADVANCE, D8 DISCOVER
Технические условия тех.документация фирмы
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2006
Методика поверки МП НИЦПВ
Межповерочный интервал 2 года
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование ГЦИ СИ ОАО ФНТЦ "Инверсия"
Адрес 107031, г.Москва, ул.Рождественка, 27
Руководитель Пункевич Борис Семенович
Телефон ()
Факс 208-49-62
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.07.2011
Номер сертификата 24447
Тип сертификата (На серию или на партию) С
Дата протокола 09 от 29.06.06 п.300
Производитель / Заявитель

Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия

 Германия 

Ostliche Rheinbruckerstr.50 D-76187 Karlsruhe Germany, тел.+49 721 595 2888, факс +49 721 595 4587

Скачать

21685-06: Описание типа СИ
280.7 КБ Скачать