ВНИИОФИ Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ

Оборудование

35101-07
EOT-500 Тестеры оптические
Фирма "EXFO Inc.", Канада
Для измерений оптической мощности и затухания в оптических волокнах и оптических компонентах в одномодовых и многомодовых волоконно-оптических линиях передачи, соответствует рангу рабочего средства измерений средней мощности оптического излучения сог...
35101-07
EOT-500 Тестеры оптические
Фирма "EXFO Inc.", Канада
Для измерений оптической мощности и затухания в оптических волокнах и оптических компонентах в одномодовых и многомодовых волоконно-оптических линиях передачи, соответствует рангу рабочего средства измерений средней мощности оптического излучения сог...
35100-07
EOT-100 Тестеры оптические
Фирма "EXFO Inc.", Канада
Для измерений оптической мощности и затухания в оптических волокнах и оптических компонентах в одномодовых и многомодовых волоконно-оптических линиях передачи, соответствует рангу рабочего средства измерений средней мощности оптического излучения сог...
35100-07
EOT-100 Тестеры оптические
Фирма "EXFO Inc.", Канада
Для измерений оптической мощности и затухания в оптических волокнах и оптических компонентах в одномодовых и многомодовых волоконно-оптических линиях передачи, соответствует рангу рабочего средства измерений средней мощности оптического излучения сог...
35099-07
KA Авторефрактометры
Фирма "KOWA COMPANY, LTD.", Япония
Для объективного измерения рефракции и определения положения главных сечений астигматических линз, необходимых для коррегирования недостатков оптической системы глаза. Данные объективного измерения рефракции, полученные с помощью авторефрактометров,...
Для контроля оптических параметров корригирующих очков и правильности их изготовления. С их помощью измеряют заднюю вершинную рефракцию и призматическое действие очковых линз всех типов, маркируют оптический центр линзы, положения главного сечения с...
Для контроля оптических параметров корригирующих очков и правильности их изготовления. С их помощью измеряют заднюю вершинную рефракцию и призматическое действие очковых линз всех типов, маркируют оптический центр линзы, положения главного сечения с...
Для ориентировочного определения уровня внутриглазного давления бесконтактным способом. Данные ориентировочного определения уровня внутриглазного давления, полученные с помощью тонометров КТ, не могут являться основанием для диагноза глаукомы. Исполь...
35096-07
KW Авторефрактокератометры
Фирма "KOWA COMPANY, LTD.", Япония
Для объективного измерения рефракции, определения положений главных сечений при астигматизме, а также определения радиуса кривизны роговицы глаза, необходимых для корригирования недостатков оптической системы глаза при подборе контактных линз. Данные...
Для измерения амплитуд эхосигналов, отраженных от дефектов, определения координат обнаруженных дефектов и измерения толщины, являются стационарными многоканальными приборами и предназначенными для контроля изделий в составе автоматизированных и полуа...
Для прецизионных измерений скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитных материалов) при одностороннем доступе к объекту контроля, область применения: машин...
Для определения массовой доли растворимых сухих веществ в растворах в соответствии с международной сахарной шкалой % Brix, область применения: пищевая, химическая промышленность, фармацевтическая и другие отрасли промышленности.
Для измерения и графической регистрации биоэлектрических потенциалов сердца при диагностике сердечно-сосудистой системы человека в поликлиниках, клиниках и других лечебно-профилактических медицинских учреждениях.
34929-07
NAR-1T, NAR-2T, NAR-3T, NAR-4T Рефрактометры Аббе
Фирма "Atago Co., Ltd.", Япония
Для измерения показателя преломления неагрессивных жидкостей и твердых веществ, а также для определения массовой доли растворимых сухих веществ (сахарозы) в растворах по шкале сахарозы ( % Brix) (кроме рефрактометров NAR-4T), область применения: пище...
Для воспроизведения и передачи единиц энергетической освещенности на длинах волн основных резонансных линий Ag, Cd, Cr, Си, К, Li, Fe, Hg, Na, Ni, Pb, Zn в соответствии с поверочной схемой вторичного эталона ВЭТ-162-2002, для калибровки и поверки сре...