Линейные Классификатор средств измерений

Оборудование

44969-10
S1937 Мера рельефная с наночастицами олова
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для измерения погрешности микроскопов электронных растровых (РЭМ) в диапазоне 1,2...100 нм при их поверке (калибровке).
44968-10
S140 Мера рельефная графитовая
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-8) м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих
44967-10
NVision 40 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследоват...
44966-10
S106 Мера периода рельефная
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-8)...10^(-5) м. Применяется для поверки и калибровки высокоточных микроскопов электронных просвечивающих и других средств измерений малой длины.
44941-10
ГСА-5 Аппаратура геодезическая спутниковая
ФГУП "ПО "Уральский оптико-механический завод им.Э.С.Яламова" (УОМЗ), г.Екатеринбург
Для приёма и обработки сигналов глобальных навигационных спутниковых систем ГЛОНАСС (Российская Федерация) и GPS (США) с целью определения расстояний между пунктами установки аппаратуры. Область применения - топографическая съемка, выполнение землеус...
44940-10
GSS8000 Имитаторы спутниковых навигационных систем
Фирма "Spirent Communications PLC", Великобритания
Спецраздел.
44938-10
Leica DISTO™ D3a, Leica DISTO™ DXT Дальномеры лазерные
Фирма "Leica Geosystems AG", Швейцария
Для измерения расстояний и углов наклона. Область применения - линейные измерения во всех отраслях строительства, промышленности, кадастра, научно-технической и других областях хозяйства.
44935-10
TALYSTEP Прибор для измерения шероховатости поверхности
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для измерения параметров шероховатости поверхности, а также для исследования микрогеометрии поверхностей. Применяется в ФГУП "ВНИИМС".
Для градуировки, поверки и калибровки толщиномеров листовых материалов. Область применения - метрологические службы предприятий, связанных с производством и применением стального проката.
44899-10
МТОНП, МТ-НП, МТДХПН Меры толщины покрытий
Институт прикладной физики НАН Беларуси, Беларусь, г.Минск
Для градуировки и поверки магнитных толщиномеров однослойных никелевых и двухслойных (немагнитный материал на никеле) покрытий на немагнитных основаниях. Область применения - обеспечение единства измерений толщины покрытий, применяемых для защиты от...
44898-10
МТНП-1 Толщиномеры никелевых покрытий магнитные
Институт прикладной физики НАН Беларуси, Беларусь, г.Минск
Для измерений в широком диапазоне толщины никелевых покрытий на немагнитных основаниях, а также могут использоваться при измерениях никелевых покрытий на магнитных материалах. Область применения - все отрасли промышленности, выпускающие изделия с ник...
44893-10
TALYSURF CCI 6000 Профилометр оптический
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом. Применяется в ФГУП "ВНИИМС".
Для измерений координат и геодезических определений относительного местоположения объектов. Применяются в геодезии и картографии, при создании геоинформационных систем, производстве землеустроительных работ и других видах абсолютных и относительных о...
Для измерений координат и геодезических определений относительного местоположения объектов. Применяется в геодезии и картографии, при создании геоинформационных систем, производстве землеустроительных работ и других видах абсолютных и относительных о...
Для измерений координат и геодезических определений относительного местоположения объектов. Применяется в геодезии и картографии, при создании геоинформационных систем, производстве землеустроительных работ и других видах абсолютных и относительных о...