Линейные Классификатор средств измерений
Оборудование
47830-11
УЛЬТРА-PE75Р.002 Установки ультразвукового контроля листового проката автоматизированные
ЗАО "УЛЬТРАКРАФТ", г.Череповец
Для обнаружения дефектов типа нарушения сплошности с измерением координаты выявленных дефектов поверхности и основного металла листового проката в основной и кромочной зонах с толщиной до 75 мм.
47828-11
Argovision Системы автоматического ультразвукового контроля
ООО "Трубопровод Контроль Сервис", г.Москва
Для автоматизированного контроля качества продукции с целью обнаружения дефектов, нарушений сплошности и измерения глубины их залегания в материалах, полуфабрикатах, готовых изделиях и сварных соединениях.
47828-11
Argovision Системы автоматического ультразвукового контроля
ООО "Трубопровод Контроль Сервис", г.Москва
Для автоматизированного контроля качества продукции с целью обнаружения дефектов, нарушений сплошности и измерения глубины их залегания в материалах, полуфабрикатах, готовых изделиях и сварных соединениях.
47751-11
УДС 00.00.00 Преобразователи линейного перемещения
Институт геоэкологии им.Е.М.Сергеева РАН (ИГЭ РАН), г.Москва
Для преобразования относительных линейных перемещений в цифровой код. В составе измерительных систем УДС 00.00.00 могут использоваться при проведении инженерно-строительных работ и для осуществления непрерывного мониторинга положения пластов грунта в...
47750-11
EXSTAR DMS 6000 мод. DMS 6100 Спектрометры динамические механические
Фирма "SII NanoTechnology Inc.", Япония
Для измерений линейных размеров образца в условиях тепловых и механических нагрузок (термомеханический анализ) и измерений температуры размягчения, плавления, стеклования различных материалов и оценки модуля упругости (термопластический анализ).
Для хранения единицы длины в нанометровом диапазоне для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.
Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.
Для воспроизведения и (или) хранения физической величины заданных геометрических размеров искусственных дефектов на поверхности для проведения поверки, калибровки, настройки и проверки общей работоспособности установки автоматизированной для комплекс...
Для измерения толщины стальных листов и обнаружения дефектов в виде коррозии, трещин, механических повреждений, расположенных по сечению листа. Для неразрушающего контроля стальных листов, сварных стыковых соединений стенок и днищ нефтеналивных резер...
Для измерения глубины залегания трубопровода, действующего значения и направления тока инфранизкой частоты (близкого к постоянному току) в трубопроводе, обнаружения пространственного положения трубопровода и локализации дефектов изоляции.
47688-11
SHUTTLE R Комплекс автоматизированного ультразвукового контроля полых осей колесных пар
Фирма "Cegelec Anlagen und Automatisierungstechnik GmbH & Co. KG", Германия
Для измерения амплитуд эхосигналов отраженных от дефектов, времени прохождения ультразвуковых колебаний и координат дефектов. Является портативным многоканальным прибором и предназначен для автоматизированного ультразвукового контроля полых осей коле...
47590-11
Wavemaker G3 Измерители расстояния до дефекта трубы
Фирма "Guided Ultrasonics LTD.", Великобритания
Для измерений расстояния от кольца с датчиками, расположенного на исследуемой трубе, до дефекта данной трубы.
Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным просвечивающим и другим средствам измерений малой длины.
47523-11
OWTS Системы измерений и локализации мест дефектов изоляции
Фирма "Sietz Instruments AG", Швейцария
Для измерения напряжения возникновения импульсов частичных разрядов, кажущихся зарядов импульсов частичных разрядов и интервалов времени их распространения по кабелю.
47504-11
VMX-250 Комплексы измерительные сканирующие
Фирма "RIEGL Laser Measurement Systems GmbH", Австрия
Для измерений дальности и дальнейшего построения на основе результатов измерений трёхмерной цифровой модели поверхности сканируемого объекта.